舉 辦 日 期：2016年05月17、19、20日
主 辦 單 位：山衛科技股份有限公司
議 程 大 綱：
- 品質提升與可靠度分析
- 產品成熟度介紹與評估方法
- 產品快速開發方案 - 結合設計、分析、應力加載與量測改善整合精練
- Microflown 聲源檢測、定位，以及異音排除的優化技術
適合參加對象：
- 對可靠度有興趣者
- 對聲源定位與異音排除有興趣者
- 需要自主開發、確保品品質與可靠度的企業主管及部門工程師
- 需要加速產品上市，及早進入市場競爭的企業主管及部門工程師
- 目前使用HALT/HASS設備，但是未能充份獲得效益的用戶
- 汽車電子、3C產業、家用電器等研發、設計、品保及可靠度工程人員
舉 辦 地 點： 5/17 13:00~17:00， 台北場 (報名完成後另行通知)
5/19 13:00~17:00， 台中場 (報名完成後另行通知)
5/20 13:00~17:00， 台南場 (報名完成後另行通知)
5/19 13:00~17:00， 台中場 (報名完成後另行通知)
5/20 13:00~17:00， 台南場 (報名完成後另行通知)
報 名 費 用：免費參加，名額有限請盡早報名
報 名 方 式：1. 請填妥報名表並傳真至 02-26921380 或E-MAIL至 ray@samwells.com
2. 線上報名
聯 絡 電 話：02-2692-1400 #361 蔡瑞堂
加速產品上市、減少研發成本以及提高產品與公司品牌價值，一直是我們共同追求的目標。
過去，我們藉由階梯應力加諸於產品的試驗技術，及早發現產品的潛在缺陷，並加以改進和驗證，提高產品的品質與可靠度。只是HALT設備(高加速壽命試驗)在低頻區振動能量不足與不均的問題，無法有效發現產品設計的潛在缺陷，一直困擾著追求高品質、高價值的產品業者，尤其是電子產品的主要失效都落在低頻區！
為了實現產品快速開發與提升產品成熟度，我們認為最優先解決的是過去HALT設備(高加速壽命試驗)的性能問題。如今，HALT因低頻振動能量不足與不均而無法及早發現產品缺陷的問題，將因為HAMT測試設備(高加速成熟度試驗)的開發成功而解決！
HAMT不僅能提解決HALT在低頻能是不足及振台能量不均的問題，讓你加速10倍找到產品的潛在缺陷，還能結合各種測試儀器的使用，即時改善各種失效問題，減少研發、生產與維修的成本，真正讓你能提供高可靠度的產品給客戶，提早上搶佔市佔率。
此外，山衛科技還將為您介紹是一款突破性且涵蓋了所有量測聲場功能的可攜式量測設備－Microflown。在短短幾分鐘內，為您提供完整的聲場資訊(像是3D聲音強度或粒子速度)，從產品開發階段到產線品質控制，完成聲源檢測、定位和異音排除。
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